激光粒度粒形分析儀分析模式介紹
2025-10-10
激光粒度粒形分析儀通過測量顆粒對激光的散射信號反推粒徑分布，其分析模式可根據(jù)樣品特性選擇，主要分為通用模式、單峰模式和多峰模式，具體介紹如下：
一、通用模式
適用場景：顆粒粒度分布較寬的樣品，如磨料粉體、乳液顆粒等；特征未知的樣品顆粒分析也選此模式。
特點：
覆蓋范圍廣，可同時分析多粒徑段顆粒。
對復(fù)雜分布樣品兼容性強，但可能犧牲部分窄分布樣品的精度。
案例：分析氧化鋁粉體時，通用模式能完整呈現(xiàn)其寬分布特性，避免因模式選擇不當(dāng)導(dǎo)致的信息缺失。
二、單峰模式
適用場景：顆粒粒度分布范圍不超過10倍的樣品，如0.1-1μm、1-10μm、10-100μm等窄分布顆粒。
特點：
針對窄分布樣品優(yōu)化，提高測試精度。
若樣品實際分布較寬，可能因模型不匹配導(dǎo)致結(jié)果偏差。
案例：分析單分散性氧化鋁顆粒時，單峰模式能準(zhǔn)確描述小粒徑范圍內(nèi)的分布，而通用模式可能因覆蓋范圍過廣而降低精度。
三、多峰模式
適用場景：樣品中存在兩個或以上明顯粒徑峰的情況，如混合顆粒或團聚體。
特點：
可分離并量化不同粒徑峰的貢獻(xiàn)。
對設(shè)備分辨率和算法要求較高，需確保各峰間無重疊干擾。
案例：分析含納米顆粒和微米顆粒的混合樣品時，多峰模式能清晰區(qū)分兩級分布，而單峰模式可能將混合峰誤判為單峰寬分布。
四、模式選擇的核心原則
樣品特性優(yōu)先：
窄分布樣品選單峰模式，寬分布樣品選通用或多峰模式。
未知樣品建議先用通用模式篩查，再根據(jù)結(jié)果調(diào)整模式。
精度與效率平衡：
單峰模式精度高但適用范圍窄，通用模式兼容性強但可能犧牲部分精度。
多峰模式需結(jié)合設(shè)備分辨率和算法能力選擇。
實際應(yīng)用驗證：
通過重復(fù)測試或?qū)Ρ葮?biāo)準(zhǔn)樣品驗證模式選擇的合理性。
例如，激光粒度粒形分析儀分析陶瓷原料時，若通用模式結(jié)果與單峰模式差異顯著，需重新評估樣品分布特性。
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