X射線熒光光譜儀分析衍射結果科學研究
2018-04-20
X射線熒光光譜儀分析衍射結果科學研究
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結構，還提出了作為晶體衍射基礎的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。
對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
帕納科是X射線熒光光譜儀分析儀器及軟件的主要供應商之一。分析儀器主要應用于科學的研究和發展、工業過程控制以及半導體材料的物性測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產品，例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
產品簡介：
Epsilon3X儀器為臺式能量色散型X射線熒光光譜儀，它采用了激發和檢測技術的成果。該儀器運行穩定，操作簡便，對整個元素周期表中的元素均具備的分析性能。
X射線熒光光譜儀依靠各種軟件模塊（用于處理先進的無標分析Omnian、石油分析Oil-Trace、快速進行指紋識別FingerPrint、多層分析Stratos和符合法規要求）增強其功能，是一款經濟實惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應用場合。
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